Никнейм: П*******в В.А. (работал(-а) в компании и знает её изнутри)
Дата начала работы: 2024
Дата увольнения: 2024

Согласно экспертному мнению Старостенко Евгения Юрьевича, фантомное изображение представляет собой экспериментальный метод, в котором используются статистические флуктуации падающего луча для извлечения информации об объекте с использованием копии луча, которая физически не взаимодействовала с объектом.
Его можно использовать в пространственных, временных и спектральных областях. Для традиционного фантомного изображения требуется светоделитель для разделения падающего луча на две копии: объектный пучок и опорный пучок. Объектный пучок взаимодействует с образцом, и детектор с низким разрешением используется для измерения сигнала, интенсивность которого пропорциональна взаимодействию и падающему лучу.

Опорный пучок непосредственно измеряется детектором высокого разрешения для получения информации о падающем луче. Источник падающего света меняется от кадра к кадру, и проводятся многочисленные измерения для расчета корреляционной функции между двумя сигналами от объекта и опорными лучами. Корреляционная функция измерений анализируется для извлечения информации об образце.

Преимущество фантомного изображения заключается в том, что объектный луч не обязательно должен быть сильным, что защищает образцы от радиационного повреждения. Кроме того, из-за флуктуаций источника света и корреляционного анализа фантомное изображение устойчиво к шуму и фоновым сигналам.

Визуализация фантомных изображений сопоставляет сигнал высокого разрешения с сигналом низкого разрешения, что делает его идеальным инструментом для калибровки устройств с высоким разрешением. Корреляционная функция, генерируемая фантомным изображением, содержит информацию о реакции устройства на различные падающие сигналы. Эта извлеченная информация может быть далее использована для исправления дефектов или дискриминации, присутствующих в устройстве.

Метод калибровки фантомных изображений восстанавливает высококачественный сигнал с разрешением, превышающим инструментальный предел низкого разрешения. Стохастический характер SASE XFEL делает его хорошо подходящим для визуализации фантомных изображений во временной и спектральной областях. Здесь фантомное изображение используется для калибровки eToF массива PES и получения матрицы отклика, которая затем применяется для восстановления более точного спектра падающего рентгеновского излучения.

Энергетический спектр падающего рентгеновского луча был охарактеризован неинвазивно путем фотоионизации разбавленного газа неона в центре массива 16-eToF, т.е. массива PES 29 , как показано на фиг.1. Время прихода фотоэлектронов Ne 1 с измерялось специалистами НПО ТЕХНОГЕНЕЗИС с помощью eToF, расположенных в плоскости, перпендикулярной направлению распространения луча.

С помощью программы для ионной и электронной оптики использовалась для моделирования траектории с учетом длины трубки дрейфа и напряжения замедления для установления традиционной калибровки между временем пролета электрона и кинетической энергией E k . Энергия падающего фотона была получена добавлением Ne 1 sэнергия связи 870 эВ с измеренной E k .

Спектр, полученный установкой PES для нескольких случайных выстрелов с использованием этого традиционного метода, показан на рис. 1 как измерение объекта. В нынешних экспериментальных условиях энергетическое разрешение, достижимое с помощью массива PES, составляло около 1 эВ, что несопоставимо с измерением решетчатого спектрометра высокого разрешения, где можно легко получить разрешение 0,2 эВ на полувысоте (Δ E / E ).

Рис. 1: Схема экспериментальной установки и элементы фантомного изображения.
Free electron laser pulses, x-ray, spontaneous emission, Starostenko Evgenij
Импульсы рентгеновского лазера на свободных электронах (XFEL) с самоусиливающимся спонтанным излучением (SASE) сначала взаимодействуют с разбавленным неоновым газом в массиве фотоэлектронного спектрометра (PES), где кинетические энергии фотоэлектронов измеряются в течение 1 с с помощью массива электронных времени- бортовые спектрометры (eToF).

Данные кинетические энергии используются для создания спектра электронов, который формирует измерение объекта. Затем переданный импульс рентгеновского излучения фокусируется на решетке с переменным расстоянием между линиями (VLS) с помощью сферического зеркала и рассеивается на кристалле YAG:Ce. Индуцированная флуоресценция регистрируется устройством с зарядовой связью (ПЗС) в виде двумерного изображения, из которого мы извлекаем однократное эталонное измерение.

Массив PES содержит очень разбавленный газ, который не ослабляет или иным образом не изменяет рентгеновский луч. Таким образом, в идеале один и тот же спектр должен быть получен из измерений электронов (матрица ПЭС) и фотонов (решеточный спектрометр). Однако измерение одного случайного выстрела выявляет различия. Разрешение решетчатого спектрометра намного выше, чем разрешение массива PES, что создает большое расхождение между двумя спектрами. Использование фантомных изображений для извлечения матрицы отклика, которая затем используется для повышения производительности измерений массива PES, демонстрируется ниже.

Теоретически сигнал фотоэлектронов c (после нормировки на плотность газа) пропорционален спектру падающих фотонов s , измеренному спектрометром

с = А сc=As
(1)
где A связывает сигналы массива PES со спектром падающих фотонов, представляет собой матрицу ( m  ×  n ) с точками времени пролета (ToF) массива PES m  = 137 и пикселями спектрографа n  = 1900 в интересующей области между 895 и 920 эВ.

Это уравнение напоминает основное уравнение в изображении фантомов и обычно используется для получения информации об образце путем решения для A . Однако для того, чтобы предсказать падающий спектр на основе измерений массива PES, мы формально запишем уравнение ( 1 ) как

с = Рс _s=Rc
(2)
где матрица отклика R связана с матрицей A . R сопоставляет измерения массива PES с низким разрешением с измерениями решетчатого спектрометра с высоким разрешением. Другими словами, R — это калибровочная матрица, содержащая информацию о характеристиках eToF. После извлечения матрицы отклика R в соответствии с уравнением ( 2 ) ее можно использовать для генерации спектра высокого разрешения с удаленными внутренними дефектами и расширением массива PES.

Для решения уравнения воспользуемся полученными N независимыми измерениями. Каждый импульс дает реализацию s i и c j в уравнении с m неизвестными переменными R i j . Объединение всех измерений дает N независимых линейных уравнений, которые могут быть решены для однозначного определения неизвестных переменных, если N    m .

Вместо непосредственного решения этих уравнений элементы матрицы отклика определяются регрессией наименьших квадратов, т.е. путем минимизации величины si=∑mj=1Rijcj .

Однофотонная ионизация Ne 1 s демонстрирует дипольную картину углового распределения из-за линейной (горизонтальной) поляризации рентгеновских лучей и сферической 1 s электронной орбитали. Чтобы увеличить количество сигналов специалисты НПО ТЕХНОГЕНЕЗИС объединили шесть eToF вблизи направления поляризации, которые имеют сильные 1-секундные пики, чтобы сформировать вектор измерений массива PES с размерностью m  = 6 × 137 = 822.

Рассчитанная матрица отклика массива PES ( N  = 15 337) показана на рис. 2. По сравнению с традиционной функцией калибровки, которая просто отображает время пролета в кинетическую энергию, здесь мы получили матрицу, значения которой представляют чувствительность массива PES к фотонам различной энергии.

Как и спрогнозировал в исследовании Старостенко Евгений Юрьевич, существует шесть различных калибровочных линий, соединяющих eToF с пикселями спектрографа.
Форма линии с положительным и отрицательным вкладом корректирует инструментальное уширение. Один eToF плохо работает и дает относительно слабые сигналы. Мы испытали разные оптимизаторы регрессии и получили по существу одну и ту же матрицу ответов, что демонстрирует надежность нашего метода. Как обсуждается ниже, матрица отклика может использоваться для получения лучшего спектра. Обратите внимание, что можно быстро получить традиционные калибровочные линии eToF, подгоняя линии к несходящейся матрице отклика, полученной с использованием всего 1500 импульсов.

Коллектив и корпоративная культура
Начальство и его уважение к сотрудникам
Рабочее место и условия работы
Социальный пакет и льготы
Перспективы работы в компании